标准名称：多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法

标准编号：GB/T 24582-2023

替代情况：替代GB/T 24582-2009

资源类别：国家标准

实施日期：2024 年 3 月 1 日

附件大小：1.21 MB

GB/T 24582-2023标准简介：

本文件描述了用酸从多晶硅表面浸取金属杂质，并用电感耦合等离子质谱仪定量检测多晶硅表面金属杂质含量的方法。

本文件适用于太阳能级多晶硅和电子级多晶硅表面碱金属、碱土金属和第一系列过渡元素如钠、钾、钙、铁、镍、铜、锌、铝等杂质元素含量的测定，测定范围为 0.01 ng/g。

本文件代替 GB/T 24582-2009《酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质》。