标准名称：电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理

标准编号：GB/T 42706.2-2023

资源类别：国家标准

实施日期：2023 年 9 月 1 日

附件大小：4.27 MB

GB/T 42706.2-2023标准简介：

本文件描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式，以及评估一般退化机理的试验方法。

通常本文件与 IEC 62435-1 一起使用，用于预计贮存时间超过 12 个月的长期贮存器件。

特定类型电子元器件的退化机理在 IEC 62435-5～IEC 62435-9 中加以规定。