标准名称：元器件位移损伤试验方法

标准编号：GB/T 42969-2023

资源类别：国家标准

实施日期：2024 年 1 月 1 日

附件大小：1.56 MB

GB/T 42969-2023标准简介：

本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。

本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。

其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。