标准名称：半导体集成电路 驱动器测试方法

标准编号：GB/T 42975-2023

资源类别：国家标准

实施日期：2024 年 1 月 1 日

附件大小：3.62 MB

GB/T 42975-2023标准简介：

本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。

本文件适用于 74/54 系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。

其他类别驱动器的测试参考使用。