标准名称：半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求

标准编号：GB/T 43035-2023

资源类别：国家标准

实施日期：2023 年 9 月 7 日

附件大小：8.48 MB

GB/T 43035-2023标准简介：

本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。