GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
GB/T 43226-2023
标准推荐性现行标准名称:宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
标准编号:GB/T 43226-2023
资源类别:国家标准
实施日期:2024 年 1 月 1 日
附件大小:1.46 MB
GB/T 43226-2023标准简介:
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备,试验样品、试验步骤、试验报告。
本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。