GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

GB/T 43226-2023
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标准名称:宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

标准编号:GB/T 43226-2023

资源类别:国家标准

实施日期:2024 年 1 月 1 日

附件大小:1.46 MB

GB/T 43226-2023标准简介:

本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备,试验样品、试验步骤、试验报告。

本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

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