标准名称：微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法

标准编号：GB/T 43883-2024

资源类别：国家标准

实施日期：2024 年 11 月 1 日

GB/T 43883-2024标准简介：

本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（ TEM/STEM ) 技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。

本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约 1/3 以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。

本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。