标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

标准编号：GB/T 4937.2-2006

替代情况：替代 GB/T 4937-1995

资源类别：国家标准

实施日期：2007 年 2 月 1 日

文件格式：PDF电子版

文件大小：494 KB

GB/T 4937.2-2006标准简介：

本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件机械和气候试验方法》，适用于半导体器件的低气压试验。