标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

标准编号：GB/T 4937.35-2024

标准类别：国家标准

实施日期：2024 年 10 月 1 日

GB/T 4937.35-2024标准简介

本文件规定了塑封电子元器件进行声学显微镜检查的程序。

本文件提供了一种使用声学显微镜对塑料封装进行缺陷（ 分层、裂纹、模塑料空洞等 ）检查的方法，本方法具有可重复性，是非破坏性试验。